NatCommun_TNSS_2023.zip

The data deposited here are grouped into the following categories.ARPES data: photoemission intensity maps collected at SSRL beamline 5 and ALS beamline 7. Used to generate figures 3, S4, S6XRD data: synchrotron x-ray diffraction data collected at CHEXS beamline 4. Used to generate figures 2, 4, S2, S3DFT data: first principles calculation data. Used to generate figures 2, 3, S7ED data: exact diagonalization and mean-field calculation data. Used to generate figures 4, S8, S9Other characterizations: resistivity as measured from 4-probe methods in a PPMS (Quantum Design), EDX for composition characterization. Used to generate figures 1, S1, S5

本数据集按如下类别分组存储。
角分辨光电子能谱（Angle-resolved Photoemission Spectroscopy, ARPES）数据：采集自斯坦福同步辐射光源（SSRL）5号光束线与先进光源（ALS）7号光束线的光电子强度图谱，用于生成图3、图S4、图S6。
X射线衍射（X-ray Diffraction, XRD）数据：采集自CHEXS光束线4号的同步辐射X射线衍射数据，用于生成图2、图4、图S2、图S3。
密度泛函理论（Density Functional Theory, DFT）数据：第一性原理计算数据，用于生成图2、图3、图S7。
精确对角化（Exact Diagonalization, ED）数据：精确对角化与平均场计算数据，用于生成图4、图S8、图S9。
其他表征数据：包括采用量子设计（Quantum Design）物理性质测量系统（PPMS）的四探针法测得的电阻率数据，以及用于成分表征的能量色散X射线谱（Energy-dispersive X-ray Spectroscopy, EDX）数据，用于生成图1、图S1、图S5。