R56_02188-Cryo_Al.pos
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ultrafine-grained ARB Al samples made of the solution hardened Al alloy, AA5754 <br>APT tip prepared in a Ga-ion FIB/SEM (ZEISS Crossbeam 540) at -140 degrees C using 30kV and 300pA<br>CAMECA 4000X HR LEAP, pulse frequency 200 kHz, temperature of 40K, 20% pulse fraction<br>
采用固溶强化铝合金AA5754制备的超细晶累积叠轧（ARB）铝试样 采用镓离子源聚焦离子束/扫描电子显微镜（FIB/SEM，蔡司Crossbeam 540）在-140℃条件下制备原子探针层析成像（APT）针尖试样，制备参数为30kV加速电压与300pA束流 测试采用CAMECA 4000X HR型局域电极原子探针（LEAP），实验参数设置为：脉冲频率200kHz、测试温度40K、脉冲占比20%
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2020-08-31
