XRR on multilayer systems for quantum devices
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https://doi.esrf.fr/10.15151/ESRF-ES-2109985127
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资源简介：
This is a test run for the feasibility of demanding XRR measurements on advanced multilayer systems for quantum devices
本试运行旨在验证在量子器件用先进多层膜系统上实施高要求X射线反射率（XRR）测量的可行性
提供机构：
European Synchrotron Radiation Facility
创建时间：
2025-03-26
