芯片测试数据数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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资源简介：
芯片测试数据数据集中数据内容涵盖1D1R的测试结果。包括阵列中一些单元的性能测试的数据，包含擦写速度、疲劳等以及成品率的数据。数据的类型包括：.dat文件，数据量大约为13 MB，共享方式为完全共享。
The chip test dataset contains test results of 1D1R. It encompasses performance test data of some units in the array, including erase/write speed, fatigue characteristics and yield data. The data is stored in .dat files, with a total size of approximately 13 MB, and supports full sharing.
提供机构：
中芯国际集成电路制造（上 海）有限公司
搜集汇总
数据集介绍
背景与挑战
背景概述
该数据集包含1D1R芯片测试结果，涵盖擦写速度、疲劳等性能指标及成品率数据，数据量约13MB，包含67个.dat文件，采用完全共享方式。数据集由中芯国际集成电路制造（上海）有限公司的詹奕鹏创建，属于国家重点研发计划项目成果。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
