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X-Ray Fluorescence, Reflectography and Fourier-transform Infrared Spectroscop...

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B2FIND2026-04-25 收录
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XRF (ARTAX: 50kV, 600 µA, linescans of 10 points, diverse times used (12 to 30s), & spot analyses of 120s), Reflectography (DinoLite: x50 magnification, vis, NIR and...

X射线荧光光谱法(XRF):采用ARTAX设备,工作参数为50kV电压、600μA电流,包含10个点位的线扫描分析,扫描时长覆盖12至30秒不等,同时包含120秒的单点分析;反光成像法(Reflectography):采用DinoLite设备,放大倍率为50倍,涵盖可见光(vis)、近红外(NIR)以及……
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