Dispersion relations for MAPI deposited on a Si wafer
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Dispersion relations for MAPI deposited on a Si wafer. Measured using variable angle spectroscopic ellipsometry and fit using the following oscillators: - Tauc-Lorentz<br>Eg 1.55<br>E 0 1.63<br>A0 23.9<br>
针对沉积于硅（Si）晶圆上的甲胺铅碘（MAPI）的色散关系。本数据集采用变角度光谱椭圆偏振法（variable angle spectroscopic ellipsometry）进行测量，并通过以下振子模型完成拟合：
- 塔克劳伦兹（Tauc-Lorentz）模型
禁带宽度Eg：1.55
特征能量E₀：1.63
振子强度A₀：23.9
提供机构：
figshare
创建时间：
2016-01-19
