DNA合成芯片原理验证性测试

合成芯片原理验证性测试数据集主要面向DNA合成芯片在应用于DNA电化学合成时的原理验证性功能测试，通过对芯片电极材料的功能化修饰和修饰结果表征、芯片电极材料在电化学DNA合成过程中的性能表征和优化、以及芯片上DNA电化学合成的原理验证性结果表征，记录下芯片应用于DNA合成的各步骤结果，通过原理性验证测试结果来评估合成芯片用于DNA电化学合成的可行性。数据量约为651.4MB。