Supplementary Information
收藏DataCite Commons2024-10-17 更新2025-01-04 收录
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资源简介：
1. Atomic force microscopy and transmission electron microscopy measurement
2. Full width at half maximum of the Pt(111) XRD peaks and estimation of grain sizes
1. 原子力显微镜（Atomic Force Microscopy）与透射电子显微镜（Transmission Electron Microscopy）测量
2. Pt(111)晶面X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD）峰的半高宽及晶粒尺寸估算
提供机构：
AIP Publishing
创建时间：
2024-10-09
