ТОЧЕЧНЫЕ ТОПОЛОГИЧЕСКИЕ ДЕФЕКТЫ И ДИСЛОКАЦИИ В ПОЛЯРНЫХ СМЕКТИЧЕСКИХ НАНОПЛЁНКАХ

В докладе представлены результаты исследования влияния точечных топологических дефектов и дислокаций на полярные и оптические характеристики смектических жидкокристаллических наноплёнок с одномерным трансляционным упорядочением. Исследовались наноплёнки толщиной от двух до двадцати молекулярных слоёв, образующие сегнетоэлектрическую, сегнетиэлектрическую и антисегнетоэлектрическую фазы. Число молекулярных слоёв определялось по спектрам отражения, можно было определять величину (число смектических слоёв) вектора Бюргерса дислокаций в плёнках с абсолютной точностью. Ориентация молекул в наноплёнках определялась с помощью высокочувствительного метода деполяризованной микроскопии в отражённом свете

本报告展示了一项关于点拓扑缺陷与位错对具有一维平移有序结构的层状液晶纳米薄膜极性与光学特性影响的研究成果。研究所采用的样品为厚度介于2至20个分子层的纳米薄膜，此类薄膜可形成铁电、亚铁电与反铁电三种相态。可通过反射光谱测定分子层数，且可实现薄膜中位错的柏格斯矢量（Burgers vector）大小（即层状液晶层数）的绝对精准定量表征。纳米薄膜内的分子取向可通过高灵敏度反射式消偏显微镜法进行测定。