MOESM1 of Optimal principal component analysis of STEM XEDS spectrum images
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资源简介：
Additional file 1. Simulated STEM XEDS spectrum-image of a phantom CMOS device with adding Poisson noise.
补充材料1：添加了泊松噪声的体模CMOS器件的模拟扫描透射电子显微镜（Scanning Transmission Electron Microscopy，STEM）X射线能量色散谱（X-ray Energy Dispersive Spectroscopy，XEDS）谱图图像
提供机构：
figshare
创建时间：
2019-04-10
