Surface-topography challenge - TINT - sample D51 - smooth
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A "smooth" sample size is approximately 1 cm x 1 cm, nominally flat square wafer with 0.50 mm thickness. The “smoother surface” – CrN deposited on a prime-grade polished silicon wafer.
“平整型”样本的尺寸约为1厘米×1厘米，为标称平整的方形晶圆，厚度0.50毫米。“更光滑表面”样本的表面为在特级抛光硅晶圆上沉积的氮化铬（CrN）涂层。
提供机构：
contact.engineering创建时间：
2024-11-07
