Digital surface twin #A66
收藏DataCite Commons2025-04-28 更新2025-05-10 收录
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资源简介：
AFM Contact and Tapping mode images
AFM model: veeco diinova
Resolution is limited by tip radius ~ 20nm
原子力显微镜（Atomic Force Microscope，AFM）接触模式与轻敲模式成像图。
所用AFM型号为Veeco Di Innova。
成像分辨率受针尖半径限制，约为20纳米。
提供机构：
contact.engineering
创建时间：
2025-04-28
