Transient photocurrent test and defect detection, TCAD simulation results
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资源简介：
Using DLTS technology combined with TACD simulation experiments to detect defects in transient photocurrent test samples and explain the mechanism of current rise
采用深能级瞬态谱（Deep Level Transient Spectroscopy, DLTS）技术结合瞬态交流电导（Transient Alternating Current Conductivity, TACD）模拟实验，对瞬态光电流测试试样中的缺陷进行检测，并阐释电流上升的物理机制。
提供机构：
Science Data Bank
创建时间：
2023-09-11
