InGaN材料XPS表征数据集
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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资源简介：
X射线光电子能谱技术（XPS）是电子材料与元器件显微分析中的一种先进分析技术,为电子材料研究提供各种化合物的元素组成和含量、 化学状态、分子结构、化学键方面的信息。通过XPS可以有效分析InGaN元素组及成键信息。
X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) is an advanced analytical technique used in the microscopic analysis of electronic materials and components. It provides valuable information on the elemental composition, content, chemical states, molecular structures and chemical bonds of various compounds for research on electronic materials. Notably, XPS can effectively analyze the elemental composition and bonding information of InGaN.
提供机构：
华南理工大学
