Surface-Topography Challenge_Sample A34

Tapping and contact mode AFM images with different scan sizes on the respective sample A34 (smoother surface-CrN deposited on a prime-grade polished silicon wafer).

针对对应样品A34——该样品为沉积于特级抛光硅片上的氮化铬（CrN）薄膜，其表面更为光滑平整——采集了不同扫描尺寸下的轻敲模式与接触模式原子力显微镜（Atomic Force Microscope, AFM）图像。