XAFS spectrum of Silicon
收藏DataCite Commons2026-02-20 更新2025-04-16 收录
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资源简介：
This dataset consists of X-ray absorption fine structure (XAFS) spectra at Si K-edge of Silicon measured at Ritsumeikan-SR BL-10, and is a part of XAFS database (MDR XAFS DB, https://doi.org/10.48505/nims.1447) as a collection of MDR
本数据集包含在立命馆同步辐射BL-10线站（Ritsumeikan-SR BL-10）采集的硅的K边X射线吸收精细结构（X-ray absorption fine structure, XAFS）谱，且作为MDR合集的组成部分，收录于XAFS数据库（MDR XAFS DB，https://doi.org/10.48505/nims.1447）。
提供机构：
Ritsumeikan University
创建时间：
2022-06-09
