批量多参数测试平台数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-05-16 收录
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资源简介:
本数据集中的数据为批量多参数测试平台的主要性能指标测试数据、传感器标定测试数据(含原始输出数据、标定后复测数据)。通过高精度标准压力源、压力校验仪、标准铂电阻温度计等核心测试仪器,测试批量封装测试平台主要性能指标以及采集传感器标定前后的测试数据。按照设计的测试流程采集传感器输出数据,在(25±5)℃、相对湿度≤80RH%、气压(86~106)kPa的环境条件下,对25只待测传感器进行多温度点(-55℃、-20℃、25℃、50℃、75℃、100℃、125℃)、多压力点(0kPa至量程上限)的标定与复测,采集传感器输出信号。
提供机构:
中电科芯片技术(集团)有限公司



