基于同步辐射HE-XRD的微观应力与变形微结构原位表征

基于同步辐射HE-XRD的表征技术实现的空间分辨率5μm，标志着其能够在准体材料尺度上对局域结构状态进行细致刻画。该分辨率使得实验能够在层状构型材料组元层内或局部区域内解析应力分布差异，避免因平均化效应而掩盖组织内部的非均匀性特征。在同步辐射HE-XRD实验中，晶格应变分辨率10⁻³是确保对材料内部应力状态与局域畸变进行精确量化的核心指标。该分辨率能够识别晶格常数在千分之一量级的变化，使得细微的弹性应变积累、位错引起的局部畸变以及组织不均匀性导致的应变梯度得以被可靠探测。在同步辐射HE-XRD实验中，样品厚度是确保测量结果准确性和代表性的关键因素。在同步辐射HE-XRD实验中，样品尺寸的设定是保证测试覆盖面、避免局部效应干扰并确保统计代表性的必要条件。该数据集包含空间分辨率、晶格应变分辨率、样品厚度数据、样品尺寸4个文件夹，数据集总量为9.47GB。