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亚10nm精度校准DBR腔模并制备微柱数据集

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国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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该实验测试数据在2019年7月至2020年6月完成,采集地点在中国科学院半导体研究所2号楼和3号楼。使用分子束外延设备制备样品,再用反射谱测试系统探测样品的反射谱,从中得到数据并校准下一片样品的DBR生长参数。高质量的微柱主要使用电子束光刻的微纳加工工艺,期间与中山大学进行了合作,部分工艺在中山大学完成。最终实现了亚10nm高精度DBR结构外延生长与微柱制备。(MBE型号:美国Veeco Gen930,EBL设备型号:Raith150-Turnkey,化合物ICP设备型号:Plasmalab System 100,反射谱采用白光照明、Princeton Instrument-SpectraPro HRS光谱仪测试)。
提供机构:
中国科学院半导体研究所
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