ИССЛЕДОВАНИЕ МИКРОСТРУКТУРНЫХ СОСТАВЛЯЮЩИХ МЕТОДОМ АНАЛИТИЧЕСКОГО ИНСТРУМЕНТАЛЬНОГО ИНДЕНТИРОВАНИЯ

Одним из преимуществ современных наноиндентометров (нанотвердомеров) является возможность нанесения очень малых по размеру отпечатков (один микрон и менее) с такой же по масштабу точностью их позиционирования. Это позволяет на одном шлифе избирательно изучать корреляцию структурасвойства , наблюдая микроразмерные структурные составляющие, например, первичный кристалл/эвтектика, включение/матрица, покрытие/подложка, зерна разных фаз и структурные переходы между ними, анализируя деформационные кривые вдавливания и известные из публикаций значения структурночувствительных свойств: модуля Юнга и твердости.