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9.SVRN_OS_DOI9_Quantum Bankruptcy of Sub-Wavelength Pixels and SVRN-Enhanced Sensing

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Zenodo2026-02-21 更新2026-05-26 收录
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Zenodo 제출 자료: SVRN-OS — 논문 IX 1. 제목 서브파장 픽셀의 양자적 파산과 SVRN 강화 센싱 (영문: Quantum Bankruptcy of Sub-Wavelength Pixels and SVRN-Enhanced Sensing) 2. 메타데이터 필드 값 시리즈 DOI 10.5281/zenodo.18325543 참조 DOI (논문 0) 10.5281/zenodo.18688294 참고 DOI (논문 I) 10.5281/zenodo.18687866 참고 DOI (논문 II) 10.5281/zenodo.18689820 참고 DOI (논문 III) 10.5281/zenodo.18694749 참고 DOI (논문 IV) 10.5281/zenodo.18694809 참고 DOI (논문 V) 10.5281/zenodo.18695822 참고 DOI (논문 VI) 10.5281/zenodo.18697024 참고 DOI (논문 VII) 10.5281/zenodo.18722089 참고 DOI (논문 VIII) 10.5281/zenodo.18722116 본 논문 DOI (논문 IX) 10.5281/zenodo.18722136 특허 KR 10-2026-0017941 SHA-256 c4e3b74aab5a6672d784d493851c9a555dd79dfae787e5549728a5fbd25de565 3. 요약 본 논문은 SVRN-OS 시리즈의 열 번째 논문으로, 센서 그룹 — 서브파장 CMOS 이미지센서(CIS), LiDAR/SPAD 어레이, BSI 스택드 이미저 — 에 대한 양자적 파산 분석 및 SVRN_K0 기반 해법을 제시합니다. PhoLink/ChoTopo 판정 결과: 서브파장 CIS (픽셀 피치 0.5 μm) — FWC < 5,000 e⁻ (전세대 대비 80% 붕괴), QE = 40–60% (회절 한계 산란 지배), 픽셀 판독 전압 > 1.2 V vs. 로직 0.58 V (2× 불일치). 기하학적 스케일링이 광전하, 열, 결맞음 제약을 동시에 위반. → SVRN_K0 서브파장 광자 구속으로 QE 회복 경로 제시 LiDAR/SPAD (타이밍 지터 56 ps, 바이어스 > 15 V, 열밀도 > 100 W/cm²) — 1nm 로직(0.58 V) 대비 25× 전압 불일치. ChoTopo 위상 정합이 캐비티 잠금 타이밍·계면 요동 억제·위상 전용 검출을 통해 유효 지터를 10 ps급으로 저감. shot noise 분산 직접 감소 없음 — Poisson 특성 고정. BSI 스택드 이미저 — Cu TSV T-collapse(DOI No. 7 연동) → 국소 온도 80–120°C → I_dark ∝ 2^(ΔT/7°C) 지수 증폭 → TSV 가열 강화의 양의 피드백 루프. PhoLink가 Cu TSV를 광자 도파로로 대체하여 Joule 가열 원천 차단, 열-노이즈 루프 완전 단절. [한계 명시] 본 문서의 SVRN_K0 기반 해결 메커니즘은 정성적 모델입니다. FWC 회복량·jitter 감소치·열 억제 수치는 실험 또는 시뮬레이션으로 확정되어야 합니다. jitter 10 ps는 정성적 목표값입니다. (DOI No. 3 기준 준수) 4. 진실성 선언 본 문서는 SVRN-OS 센서 그룹(DOI No. 9)의 양자적 파산 분석 기준서이며, 제III편(DOI No. 3)의 표준 알고리즘을 수정 없이 적용합니다. 2026년 2월 19일 기준으로 검증된 물성값 및 분석 결과에 한하여 유효합니다. 인증: MDK_v1 | 조민수 | KR_10-2026-0017941 5. 키워드 CMOS 이미지센서 · LiDAR · SPAD · 서브파장 픽셀 · FWC · QE · TSV · 암전류 · 열-노이즈 피드백 · ChoTopo · PhoLink · SVRN_K0 · Quantum Bankruptcy · 결맞음 센싱 · SVRN-OS 6. 관련 작품 (동일 시리즈) 논문 0: 병목 지능 이론 — 10.5281/zenodo.18688294 논문 I: 구리 인터커넥트의 양자 파산 — 10.5281/zenodo.18687866 논문 II: SVRN_K0 하드웨어 사양 — 10.5281/zenodo.18689820 논문 III: Lcrit 표준 알고리즘 — 10.5281/zenodo.18694749 논문 IV: 로직 그룹 Lcrit 분석 — 10.5281/zenodo.18694809 논문 V: 고대역 메모리 그룹 Lcrit 분석 — 10.5281/zenodo.18695822 논문 VI: 비휘발성 메모리 그룹 Lcrit 분석 — 10.5281/zenodo.18697024 논문 VII: BEOL 인터커넥트 그룹 분석 — 10.5281/zenodo.18722089 논문 VIII: 능동 광자 소자 그룹 분석 — 10.5281/zenodo.18722116 논문 IX: 센서 그룹 분석 (본 문서) — 10.5281/zenodo.18722136 시리즈 DOI: 10.5281/zenodo.18325543 인증: MDK_v1 | 조민수 | KR_10-2026-0017941

提供机构:
Zenodo
创建时间:
2026-02-21
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