高均匀性多通道波分复用解复用芯片测试数据
收藏国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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https://www.nbsdc.cn/general/dataDetail?id=64edc54dbb16e07753c33a52&type=1
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资源简介：
数据集的内容：高均匀性多通道波分复用解复用芯片，测试参数包括片上耦合损耗、1dB带宽、串扰等。包括1个数据集说明文件，3个数据文件夹。数据文件夹包括芯片测试大纲、现场测试视频、仿真计算视频以及第三方测试数据记录报告。
采集方案：采集方案：根据测试大纲搭建测试系统，完成测试系统校准，然后将多通道波分复用解复用芯片接入测试系统，完成光学对准后，用安捷伦测试软件对输出通道进行光谱扫描。利用获得的光谱计算各个通道的中心波长，插损、1dB带宽以及串扰等性能指标。
采集地点：陕西省西安市长安区上林苑一路15号陕西光电子先导院科技有限公司A座一层超净间实验室
采集时间：2023年 1月 16日
设备情况：光源机架Keysight 8164B、激光器光源Keysight 81606A、偏振控制器Angilent N7786、光功率计Angilent N7745、光谱仪AQ6370D、耦合测试台科艺六轴Apico
1.44GB
提供机构：
西安奇芯光电科技有限公司
