电光、光电及光学器件的综合矢量分析数据集

本文提出了一种基于光学非对称双边带(ADSB)调制的综合矢量分析仪，解决了频率混叠的问题。在实验中，商用光电探测器、相位调制器和采样光纤光栅分别用作测试的O-E、E-O和O-O器件。频率分辨率为2 MHz，电扫描范围为40 GHz，光学扫描范围为80 GHz。去除标准PD的频响后，获得相位调制器的频响，如图2所示。图3显示了标准PD和被测PD的频率响应。图4展示了使用CVA测量的采样FBG的频率响应。数据量为：4.65MB。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集针对电光、光电及光学器件，提出了一种基于光学非对称双边带调制的综合矢量分析仪，以解决频率混叠问题。实验在2 MHz频率分辨率下，覆盖40 GHz电扫描和80 GHz光学扫描范围，并提供了4.65MB的数据量，包括商用器件的测试结果。