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Micro-LED器件性能测试方法研究

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国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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https://www.nbsdc.cn/general/dataDetail?id=64edc9c4bb16e07753c35de7&type=1
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资源简介:
面向Micro-LED微显示工程化需求,设计并搭建一种Micro-LED器件性能测试方法和,主要记录了Micro-LED器件的I-V特性、L-V特性、色漂特性、寿命T50等数据,数据量4.0MB。

To meet the engineering requirements of Micro-LED microdisplay industrialization, a performance testing method for Micro-LED devices was designed and established. This dataset mainly records data such as I-V characteristics, L-V characteristics, color drift characteristics, and lifetime T50 of Micro-LED devices, with a total size of 4.0 MB.
提供机构:
厦门市三安光电科技有限公司
搜集汇总
数据集介绍
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背景与挑战
背景概述
该数据集记录了Micro-LED器件的性能测试数据,包括I-V特性、L-V特性、色漂特性和寿命T50等,数据量为5.82MB,包含15个文件。数据集由福州大学的张永爱发布,属于国家重点研发计划项目的一部分。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
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