模拟计算芯片外围电路DAC的精度与速度测试数据集

本数据集是课题2考核指标2.4“外围电路精度”和考核指标2.5“外围电路速度”，其中的DAC精度与速度部分单独列出在该数据集中。主要关联课题2以下研究内容：模拟计算阵列外围电路能效比和准确度提升技术。课题通过设计精度可调的模拟计算阵列外围DAC电路，同时优化电路功耗和面积，实现高性能DAC电路测试验证，达到考核指标要求。数据集命名为模拟计算芯片外围电路DAC的精度与速度测试数据集，数据量约为1.34MB，所有文件均存放在根目录下。12个图片分别命名为课题2-004-2025年1月第三方测试外围电路DAC的精度和速度-图1~图12.jpg。图1是DAC测试系统框架示意图。图2是DAC静态性能测试流程示意图。图3显示了主时钟输入频率是400MHz。图4是测试供电电源照片。图5是测试用PCB板照片。图6显示了PCB和FPGA之间的连接。图7是FPGA照片。图8是测试整体环境照片。图9是8bitDAC静态性能输出波形。图10是经过数据处理后得到的8bitDAC静态性能DNL/INL输出结果。由图可知，8bit静态性能DNL最小为-0.97，未出现-1表明DAC无丢码，由此验证DAC的精度可达8bit，转换速度达到400MS/s。图11是4bitDAC静态性能输出波形。图12是经过数据处理后得到的4bitDAC静态性能DNL/INL输出结果。由图可知，4bit静态性能DNL最小为-0.62，未出现-1表明DAC无丢码，由此验证DAC的精度可达8bit，转换速度达到400MS/s。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集源于国家重点研发计划项目，专注于模拟计算芯片外围电路中数模转换器（DAC）的精度与速度测试。通过8bit和4bit DAC的静态性能分析，验证了其精度达到8bit且转换速度高达400MS/s，满足相关考核指标要求。