二维异质结穆勒矩阵测量数据集

本数据集面向基于二维材料的新型光电子器件设计与制备需求，采用穆勒矩阵光谱椭偏术对多种二维材料样品开展系统表征，获取随波长变化的穆勒矩阵光谱，并基于各向异性光学模型进行全局拟合反演，得到材料复折射率张量与介电张量在测量波段内的完整谱线，从而定量刻画其双折射、二向色等关键偏振光学性质。数据以样品为索引组织，包含原始穆勒矩阵元素以及反演得到的光学常数与派生物理量。时间范围覆盖项目执行期间的实验；空间范围对应样品有效测量区域，空间精度由光斑尺寸限定；计算方式采用物理约束的各向异性介质模型与参数正则化策略以降低多解性。质量控制包括仪器校准与稳定性检查、同一样品多角度交叉一致性验证，并通过拟合优度对数据可靠性进行量化标注。该数据集为二维材料光学常数的可复用基准提供标准化数据支撑，可直接用于器件光学仿真、薄膜/异质结构设计、偏振器件参数选型与反演算法评测，提升二维材料光电器件研发的效率与可重复性。