国家激光器件质量检验检测中心2022-2024年于中国科学院物理研究所检测焦斑半径
收藏国家基础学科公共科学数据中心2026-01-30 收录
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利用高精度商用成像分析仪实时测量系统焦斑半径变化实验,实时记录系统焦斑半径数据,可观察到焦斑半径满足5um。数据集记录为图片,格式为BMP文件,数据记录精度到0.2um,测量数据精确到小数点后1位,数据量477KB。
提供机构:
中国科学院物理研究所搜集汇总
数据集介绍

背景与挑战
背景概述
该数据集记录了国家激光器件质量检验检测中心于2022-2024年在中国科学院物理研究所进行的焦斑半径检测实验。通过高精度成像分析仪实时测量,数据以BMP格式图片记录,精度达0.2微米,确保焦斑半径满足5微米的要求。数据集包含2个文件,总数据量约为41.86KB。
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