国家激光器件质量检验检测中心2022-2024年于中国科学院物理研究所检测焦斑半径
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资源简介：
利用高精度商用成像分析仪实时测量系统焦斑半径变化实验，实时记录系统焦斑半径数据，可观察到焦斑半径满足5um。数据集记录为图片，格式为BMP文件，数据记录精度到0.2um，测量数据精确到小数点后1位，数据量477KB。
提供机构：
中国科学院物理研究所
