基于阻变存储器的模拟计算芯片可靠性测试数据集

该数据集为课题3考核指标3.6：模拟计算芯片可靠性的数据集，采集于2025年1月13日第三方测试的实时数据。本数据集主要关联课题3以下研究内容：基于阻变存储器的模拟计算芯片顶层架构，基于阻变存储器的模拟计算芯片集成设计。课题通过研究基于阻变存储器的模拟计算芯片顶层架构设计方案，完成了高可靠性的阻变存储器模拟计算芯片集成设计和测试验证，达到考核指标要求。本数据集命名为课题3-006-芯片可靠性，数据量约为26MB，共包含6个文件夹：ESD-HBM测试后测、ESD-HBM测试前测、HTS测试后测、HTS测试前测、TC测试后测、TC测试前测。按照IEC 60749-26标准对模拟计算芯片样品进行静电放电敏感度-人体模型测试（ESD-HBM），按照IEC 60749-6标准对模拟计算芯片样品进行高温贮存测试（HTS），按照IEC 60749-25标准对模拟计算芯片样品进行温度循环测试（TC）。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集提供了基于阻变存储器的模拟计算芯片的可靠性测试数据，采集于2025年1月13日的第三方实时测试。它包含ESD-HBM、HTS和TC等测试的前后测结果，遵循IEC标准，用于支持芯片顶层架构和集成设计的研究验证。