单比特退相干时间50微秒以上

数据包含10微秒以上退相干时间和50微秒以上退相干时间的量子芯片样品的测试数据。通过优化量子比特工作参数与参量放大器等电子学器件，实现在具有6个量子比特和15个量子比特的超导量子芯片上实现退相干时间达到10微秒以上，在具有20个量子比特的芯片上实现退相干时间达到50微秒以上。本数据集主要包含芯片样品的参数和照片，芯片各量子比特的检线测试数据，和实验测试数据的可视化结果。其中“2018-样品测试记录(相干时间T1，6以上量子比特测试)”文件夹包含6比特样品的单比特退相干时间测量结果与样品照片。“Q03_2018.ppt”文件记录测控系统的信息与照片，“样品参数和照片.pptx”文件记录样品的参数与照片，“6bits20181212 (1).pptx”记录量子比特检线测试过程与数据，“20次装样lhk（5比特，T1）.ppt”文件退相干时间测量的记录与数据。“2019-样品测试（单比特退相干时间，参量放大器）”文件夹包含15比特芯片样品单比特退相干时间测量数据与结果，和参量放大器芯片的测试数据。“单比特退相干时间/实验数据”文件夹中“.csv”文件记录了各量子比特退相干时间测量的原始数据，“单比特退相干时间/实验结果”文件夹中“实验结果.xlsx”文件记录了各比特的退相干时间与可视化结果。“2022-单比特退相干时间50微秒以上”文件夹包含50比特芯片样品单比特退相干时间测量数据，和单比特退相干时间超50微秒的可视化测试结果。“实验数据”文件夹内的“data.xlsx”记录了20量子比特的退相干时间测量数据，“实验结果”文件夹内的“单比特退相干时间超过50微秒.pdf”记录了比特退相干时间的可视化结果。