深度模组A自适应算法杂散光校正测试数据

数据用于某一场景下的深度模组A自适应算法杂散光校正测试、定量分析该场景下该校正算法的校正效果，及指导校正算法完善。采集一定距离d前景遮挡，一定距离D后景背景下的原始深度数据——原始数据tof-x、原始数据tof-y、原始数据tof-z；采集不同前景距离遮挡的数据若干组，并分别根据预定义的杂散光模型在频域对模型参数进行优化求解，使得校正后数据与无前景遮挡数据差值最小，获得杂散光标定参数集，同时结合前景距离信息，实现距离自适应的杂散光模型。一定距离d前景遮挡，一定距离D后景背景下的原始深度数据与所得自适应杂散光模型进行卷积，得到校正后的深度数据——校正后数据tof-x、校正后数据tof-y、校正后数据tof-z。

搜集汇总

数据集介绍

特点

该数据集包含1122条记录，主要用于深度模组A自适应算法杂散光校正测试，涉及模组安装参数、采集地点及前景后景信息，旨在定量分析校正算法效果并指导算法优化。