Dataset: A Spectroscopic Reflectance-Based Low-Cost Thickness Measurement System for Thin Films: Development and Testing
收藏orda.shef.ac.uk2023-06-04 更新2025-03-25 收录
下载链接：
https://orda.shef.ac.uk/articles/dataset/_strong_Dataset_A_Spectroscopic_Reflectance-Based_Low-Cost_Thickness_Measurement_System_for_Thin_Films_Development_and_Testing_strong_/23285603/1
下载链接
链接失效反馈官方服务：
资源简介：
This data repository contains the following information related to the Article: "A Spectroscopic Reflectance-Based Low-Cost Thickness Measurement System for Thin Films: Development and Testing"
File 1: RMSE and MSE calculation for SENSOR1
File 2: RMSE and MSE calculation for SENSOR2
File 3: RMSE and MSE calculation for SENSOR2 using HAL/DEUT light source
File 4: Interference Interval Method Calculation and Reflectance Curve Modelling
本数据存储库包含了与以下文章相关的一系列信息：《基于光谱反射的薄膜低成本厚度测量系统：开发与测试》
文件1：SENSOR1的均方根误差（RMSE）和均方误差（MSE）计算
文件2：SENSOR2的均方根误差（RMSE）和均方误差（MSE）计算
文件3：使用HAL/DEUT光源对SENSOR2的均方根误差（RMSE）和均方误差（MSE）计算
文件4：干涉间隔法计算及反射曲线建模
提供机构：
orda.shef.ac.uk
