合金背金层与SiC基体粘合的检测与评价数据集

该数据集的包含：里面存放的图001为不同工艺下的切割边缘电阻值支撑数据，保存为.tif格式，欧姆接触表征方法原理图(.jpg格式)、三点探针法测量(.jpg格式)，表-001_切割边缘电阻原始数据为图001绘制的数据，保存为.xlsx格式。本数据集于2022-2024年在湖南纳微新材料科技有限公司采集所得，所用设备为四探针测试仪RTS-8。
采集方案为，采用四探针测试仪测量碳化硅切割边缘电阻值，评价碳化硅电学性能。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集聚焦于合金背金层与SiC基体粘合的检测与评价，包含切割边缘电阻值、欧姆接触表征和三点探针测量等相关数据，用于评估碳化硅的电学性能。数据采集于2022至2024年，采用四探针测试仪在湖南纳微新材料科技有限公司完成。