20比以上特规模超导量子芯片研制

制备了具有20量子比特，30量子比特，和41量子比特的超导量子芯片。搭建了适用于20量子比特以上规模的量子超导芯片的低温测控系统。基于此低温测控系统对制备的20量子比特，30量子比特，和40量子比特的超导量子芯片样品的各量子比特工作参数与进行标定测试与优化。数据集主要包含芯片设计图与设计参数等信息，芯片制备过程记录与芯片样品照片，低温测控系统照片，芯片各量子比特的标定测试数据，和实验测试数据的可视化结果。其中“2019-多比特测控系统（20比特)”文件夹中包含20比特芯片的测控系统的照片。 “2020-多比特芯片制备以及测试（20、30比特芯片，单比特2比特门保真度）”文件夹包括20比特及30比特规模的超导量子芯片的设计制备信息，样品器件图（“20比特器件图.png”），单比特测试数据（“单比特测试数据”文件夹中“.csv”文件）与结果（“单比特测试结果”文件夹中“.xlsx”文件，“T2 measurement.ppt”，“stateErrorAndT1of20q.pptx”），与多比特门测试结果（“20qSample__20200319.pptx”）。“2022-量子比特芯片测试(20比特，41比特，单比特门)”文件夹包含20比特与41比特的芯片样品信息与单比特门标定测试数据与结果。20比特芯片各量子比特标定测量结果包含在文件“20比特标定.pptx”和“20比特标定_before20220920.pptx”中，耦合器的测试记录和数据在文件“量子院20qubit_coupler_sample_1st.pptx”中。43比特芯片的芯片设计图为“芯片图.jpg”文件，其标定测试数据与结果记录在文件“43比特样品测试.pptx”，“第一次样品标定信息汇总.xlsx”，“第二次43比特单比特标定.pptx”，“第八次标定数据.pptx”文件中。