IPI_Based_半导体失效分析实验室内部物理检测流程数据
收藏海数据2026-03-14 收录
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https://haidatas.com/dataset/ipi_based_bandaotishixiaofenxishiyanshinei_ce73fcf7
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资源简介：
本数据集为半导体行业失效分析（FA）实验室的内部物理检测（IPI）流程数据，涵盖2020年1月至2022年12月的作业与任务信息。包含作业唯一ID、时间节点、设备类型、样本数量，以及任务的工时、资源（设备、操作员）等核心字段，支撑半导体检测流程的分析与优化。
提供机构：
公开数据
创建时间：
2026-02-09
