High-resolution x-ray diffraction microscopy of specifically labeled yeast cells
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资源简介：
This is the fourth of five exposures of the same sample at different tilts. This one is at -15 degrees tilt. Check CXI IDs 4 to 8 for the complete set.
本描述为同一样本在不同倾斜角度下的第五次曝光中的第四次。本次曝光角度为负15度。请查阅CXI IDs 4至8以获取完整序列。
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cxidb.org
