1×17分路器模块测试数据集

科学数据来源于测试实验。实验地点为河南仕佳光子科技股份有限公司2号厂房1楼晶圆车间，测试间温度控制在20.1±0.2℃，湿度控制在35.0±1.0%RH，所使用的实验仪器均经过中国计量科学研究院的标准计量，实验正式开始前仪器进行30分钟以上时间预热，以保证仪器稳定工作。依据“国家重点研发计划课题‘PLC光子集成芯片关键工艺及技术开发’测试大纲”进行测试实验数据的产生和采集。将待测1×17分路器放置在载物台上，测试该芯片在1550nm波长下的17个通道损耗，计算得出串扰。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集来自河南仕佳光子科技股份有限公司，依据国家重点研发计划课题测试大纲，在恒温恒湿环境中使用校准仪器，测量了1×17分路器模块在1550nm波长下的17个通道损耗，并计算出串扰。数据内容涵盖低损耗和均匀性相关的测试结果，以xlsx、TXT、pdf等格式存储，总数据量1.74MB。