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自研T bit大容量业务处理芯片测试数据

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国家基础学科公共科学数据中心2024-03-05 收录
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https://www.nbsdc.cn/general/dataDetail?id=64edc54bbb16e07753c33a3a&type=1
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官方服务:
资源简介:
灵活以太网业务映射方式测试:信号产生与检测平台发送包业务,经过芯片66b交叉、FlexE合成、ODU映射等模块、采用BGMP\BMP\GMP等方式映射到ODUflex,然后经过ODU交叉环回到ODU DEMAP,FlexE拆分、将该芯片66b交叉回到信号检测平台,检测业务流是否正常。 低阶向高阶复用方式测试:信号产生与检测平台产生低阶OUDj包络,经过ODU sw、ODUj开销插入、mux otn复用到高阶ODUk或者OTUCn发送到光口总线。信号流经光口总线环回之后经过mux otn解复用之后,在低阶检测开销和净荷PRBS。
提供机构:
武汉飞思灵微电子技术有限公司
搜集汇总
数据集介绍
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背景与挑战
背景概述
该数据集提供了自研T bit大容量业务处理芯片的测试数据,主要涉及灵活以太网业务映射和低阶向高阶复用方式的测试过程。这些测试是'低功耗高集成度高性能100G光传输系统研究与应用示范'国家重点研发计划项目的一部分。
以上内容由遇见数据集搜集并总结生成
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