Multimodal grain mapping of Inconel718 and Ti shape memory alloy
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https://doi.esrf.fr/10.15151/ESRF-ES-2243163068
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资源简介：
Use PCT, DCT, s-3DXRD and Topotomo to characterize deformation and damage in these samples
提供机构：
INSA, Matériaux: Ingenierie et Science, Bât. B. Pascal, 5° étage, 7, Avenue Jean Capelle, 69621 Lyon, France; ESRF, 71 avenue des Martyrs, CS 40220, 38043 Grenoble Cedex 9, France; ENSCM, Hétérochimie Moléculaire & Macromoléculaire, 8, rue de l Ecole Normale, 34296 Montpellier Cedex 05, France
创建时间：
2028-01-01
