有热C波段40ch-150GHzAWG模块测试数据集

科学数据来源于测试实验。实验地点为河南仕佳光子科技股份有限公司15号楼1楼测试间，测试间温度控制在23±1℃，湿度控制在41±2%RH，所使用的实验仪器均经过中国计量科学研究院的标准计量，实验正式开始前仪器进行30分钟以上时间预热，以保证仪器稳定工作。依据“国家重点研发计划课题‘PLC光子集成芯片关键工艺及技术开发’测试大纲”进行测试实验数据的产生和采集：将40通道硅基SiO2 C波段150GHzAWG芯片置于室温度（23℃）下，利用C波段可调谐激光器、偏振控制仪、光功率计、稳压直流电源及计算机等仪器测试该芯片在C波段范围内的各通道插入损耗随波长的变化，进行数据采集，从而得到输出光谱，计算出各通道中心波长、波长范围、通道间隔、插入损耗和串扰等性能参数。利用Matlab软件对采集数据处理作图获得相关实验结果图片，利用Office Excel软件对实验数据进行存储和汇总。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集包含基于国家重点研发计划课题'PLC光子集成芯片关键工艺及技术开发'测试大纲产生的实验数据，测试了40通道硅基SiO2 C波段150GHzAWG芯片在C波段范围内的插入损耗、中心波长等性能参数。数据来源于河南仕佳光子科技股份有限公司的受控测试环境，通过Matlab和Excel软件处理，以txt、xlsx等多种格式存储。