openECCI-data|电子显微镜数据集|晶体缺陷分析数据集

用于OpenECCI Python库的演示数据集，用于电子通道对比成像（ECCI）分析扫描电子显微镜（SEM）中的晶体缺陷。

A demonstration dataset for the OpenECCI Python library, designed for Electron Channeling Contrast Imaging (ECCI) analysis of crystal defects in Scanning Electron Microscopy (SEM).

原始信息汇总

数据集概述

EBSD 地图

• 文件名: ebsd_map/20kv_26nA_15mm WD_4x4 bin_fcc_Fe Map.ctf

  • 描述: 来自多晶体fcc奥氏体不锈钢样品(664 x 499)的实验EBSD地图，使用20kV, 26nA, 15mm工作距离，4x4 binning在JEOL JSM-7001F FEGSEM配备Oxford Instruments Nordlys Max2 EBSD探测器上获取。

• 文件名: ebsd_map/20kv_26nA_15mm WD_4x4 binning Si Map.ctf

  • 描述: 来自单晶Si[001]样品的实验EBSD地图(48 x 35)，使用20kV, 26nA, 15mm工作距离，4x4 binning在JEOL JSM-7001F FEGSEM配备Oxford Instruments Nordlys Max2 EBSD探测器上获取。

EBSD 主模式

• 文件名: ebsd_master_pattern/Fe-master-20kV.h5

  • 描述: 使用EMsoft软件包版本5.0.20221208模拟的20kV下FCC Fe的EBSD主模式。由于文件大小和GitHub存储限制，该文件已从本仓库中删除，仅在Zenodo上提供。

• 文件名: ebsd_master_pattern/Si-master-20kV.h5

  • 描述: 使用EMsoft软件包版本5.0.20221208模拟的20kV下Si的EBSD主模式。由于文件大小和GitHub存储限制，该文件已从本仓库中删除，仅在Zenodo上提供。

电子通道对比图像(ECP)

• 文件名: fcc_fe/01_Si_ref.tif

  • 描述: 来自Si[001]的参考ECP，附着在奥氏体不锈钢样品上。

• 文件名: fcc_fe/01_steel_overview.tif

  • 描述: 来自奥氏体不锈钢样品上已进行EBSD映射区域的低放大倍数BSE图像。

• 文件名: fcc_fe/steel_ECP_xxx.tif & fcc_fe/steel_SEM_xxx.tif

  • 描述: 来自相应区域的高放大倍数BSE图像和ECP的图像对。

Si[001]晶圆在不同阶段取向的ECP模式

• 文件名: si_wafer/TFS/Si_xtilt_xrot_xxx.tif
  • 描述: 来自Si[001]的ECP，与奥氏体不锈钢样品相连，使用不同的SEM阶段倾斜/旋转组合获取。

AI搜集汇总

数据集介绍

构建方式

openECCI-data数据集的构建基于电子通道对比成像（ECCI）技术，针对扫描电子显微镜（SEM）中的晶体缺陷分析。该数据集包含了多种实验数据，如EBSD（电子背散射衍射）图谱和主模式、电子通道图案（ECP）等，这些数据通过高能电子束在不同材料（如铁和硅）上的实验获取。EBSD图谱数据来源于多晶体铁素体不锈钢和单晶硅样品，通过JEOL JSM-7001F场发射扫描电子显微镜和Oxford Instruments Nordlys Max2 EBSD探测器采集。此外，EBSD主模式数据通过EMsoft软件包模拟生成，涵盖了不同加速电压下的铁和硅的主模式。

特点

openECCI-data数据集的显著特点在于其多样性和实验精度。数据集不仅包含了多种材料（如铁和硅）的EBSD图谱和主模式，还提供了电子通道图案（ECP），这些数据能够为晶体缺陷分析提供丰富的实验依据。此外，数据集中的每个文件均附有详细的实验参数和采集条件，确保了数据的可重复性和科学性。数据集还通过Zenodo平台提供了DOI，便于学术引用和数据追踪。

使用方法

openECCI-data数据集适用于电子通道对比成像（ECCI）分析和晶体缺陷研究。用户可以通过OpenECCI Python库直接加载和处理这些数据，进行进一步的图像分析和数据挖掘。对于EBSD图谱和主模式数据，用户可以利用这些数据进行晶体结构分析、缺陷识别和材料特性研究。电子通道图案（ECP）数据则可用于研究不同材料在电子束下的响应特性。使用时，建议用户根据具体需求选择合适的文件，并参考数据集提供的实验参数进行分析。

背景与挑战

背景概述

openECCI-data数据集由OpenECCI Python库用于电子通道对比成像（ECCI）分析，旨在研究扫描电子显微镜（SEM）中的晶体缺陷。该数据集包含了多种实验数据，如EBSD图、EBSD主模式图以及电子通道图案（ECP），这些数据主要来源于铁素体不锈钢和单晶硅样品。数据集的创建旨在支持材料科学领域的研究，特别是通过高分辨率成像技术来解析晶体结构和缺陷。主要研究人员或机构通过使用JEOL JSM-7001F FEGSEM和Oxford Instruments Nordlys Max2 EBSD探测器等先进设备，获取了高质量的实验数据。该数据集的发布为材料科学研究提供了宝贵的资源，有助于推动晶体缺陷分析和材料表征技术的发展。

当前挑战

openECCI-data数据集在构建过程中面临多项挑战。首先，获取高质量的EBSD图和ECP图案需要精密的实验设备和复杂的实验条件，如精确控制电子束的能量和电流，以及样品的制备和处理。其次，数据集中的EBSD主模式图由于文件大小限制，无法直接存储在GitHub上，需通过Zenodo平台获取，这增加了数据访问的复杂性。此外，数据集的多样性和复杂性要求研究者具备深厚的材料科学和电子显微镜技术知识，以便正确解读和分析这些数据。最后，确保数据集的准确性和可靠性也是一个重要挑战，因为任何实验误差或数据处理错误都可能影响研究结果的科学价值。

常用场景

经典使用场景

openECCI-data数据集在电子束通道对比成像（ECCI）分析领域中具有广泛的应用，尤其在扫描电子显微镜（SEM）中用于研究晶体缺陷。该数据集包含了多种实验数据，如EBSD图、EBSD主模式图以及电子束通道图案（ECP），这些数据为研究晶体结构和缺陷提供了丰富的实验基础。通过分析这些数据，研究者可以深入理解材料的微观结构和性能，尤其是在不锈钢和硅晶体中的应用。

衍生相关工作

openECCI-data数据集的发布催生了一系列相关研究工作，尤其是在材料科学和电子显微镜技术领域。许多研究者基于该数据集开发了新的算法和模型，用于更精确地分析晶体缺陷和材料性能。此外，该数据集还激发了对EBSD和ECP技术的进一步研究，推动了这些技术在材料科学中的广泛应用。相关工作不仅提升了材料检测的精度，还为新材料的设计和开发提供了理论支持。

数据集最近研究

最新研究方向

在电子束通道对比成像（ECCI）领域，openECCI-data数据集的研究方向主要集中在晶体缺陷的精确分析与可视化。该数据集通过提供实验和模拟的EBSD图谱、EBSD主模式以及电子通道图案（ECP），为研究者提供了丰富的数据资源，用于深入探索扫描电子显微镜（SEM）中晶体缺陷的形成与演化机制。近年来，随着材料科学和纳米技术的快速发展，ECCI技术在材料表征中的应用日益广泛，尤其是在不锈钢和硅晶体等材料的微观结构分析中，该数据集为相关研究提供了重要的实验依据和理论支持。此外，数据集的开放性和标准化引用机制，进一步推动了该领域的国际合作与知识共享，为未来的材料科学研究奠定了坚实的基础。