МЕТОДЫ ДВУХКРИСТАЛЬНОЙ РЕНТГЕНОВСКОЙ ДИФРАКТОМЕТРИИ И ТОПОГРАФИИ В АНАЛИЗЕ РЕАЛЬНОЙ СТРУКТУРЫ КРИСТАЛЛОВ
收藏DataCite Commons2022-08-23 更新2025-04-16 收录
下载链接：
http://www.issp.ac.ru/ebooks/conf/Def.Mater.pdf#page=193
下载链接
链接失效反馈官方服务：
资源简介：
Кристаллы основа многочисленных приборов и устройств современной техники. Все реальные кристаллы содержат разнообразные несовершенства структуры, которые сильно, иногда кардинально, изменяют свойства кристаллов и оказывают непосредственное влияние на эксплуатационные характеристики приборов, изготовленных на их основе.
提供机构：
Институт физики твердого тела РАН
创建时间：
2019-11-05
