Cypress Semiconductor High-Energy Neutron Evaluation

B2FIND2026-04-25 收录

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资源简介：

1) Neutron testing of NVM 65nm FL-L products. These flash memories will be programmed and exposed to neutrons to count the number of bit flips.2) Neutron testing of NVM 65nm...

1) 针对65nm制程FL-L型非易失性存储器（Non-Volatile Memory, NVM）产品的中子测试。该类闪存将被执行编程操作并暴露于中子辐照环境中，以统计位翻转的总数量。2) 针对65nm制程NVM产品的中子测试……