车载工况和环境的寿命试验数据集

主要面向车规存储器 芯片典型工作负载模拟及其寿命模型研究，基于易失性存储器DDR4和非易失性存储器NorFlash 的疲劳失效机理，设计了DDR4高温擦写疲劳试验，norflash高低温擦写疲劳后数据保持试验。主要记录了DDR4疲劳参数、norflash不同疲劳寿命试验中数据保持时间。数据量为42.4MB。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集面向车规存储器芯片的寿命模型研究，基于易失性存储器DDR4和非易失性存储器NorFlash的疲劳失效机理，设计了高温擦写疲劳试验及数据保持试验，记录了DDR4疲劳参数与NorFlash不同寿命阶段的数据保持时间。数据量约42.4MB，文件格式为xlsx和docx。