MEMS_XRay_SEM
收藏DataCite Commons2024-08-12 更新2025-04-16 收录
下载链接：
https://repod.icm.edu.pl/citation?persistentId=doi:10.18150/HTEQOM
下载链接
链接失效反馈官方服务：
资源简介：
Dane dotyczące pomiaru intensywności świecenia różnych luminoforów poddanych działaniu promieniowania rentgenowskiego. Obrazy uzyskane po naświetleniu matrycy CMOS z wykorzystaniem różnych luminoforów i różnych energii wiązki. Oraz pliki z obrobionymi danymi (format .opju, .xlsx).
提供机构：
RepOD
创建时间：
2023-03-27
