supplemental material

Technical details of the operando HAXPES experiments, supporting data for the XRD analysis and ex-situ I-V and P-V characteristics at pris- tine, wake-up and fatigue stages and leakage current measurements.该数据集详细记录了操作条件下HAXPES实验的技术细节，包括支持X射线衍射分析的数据，以及在不同阶段（即原始、唤醒和疲劳阶段）的离位I-V和P-V特性测量以及泄漏电流的测定。