Muon soft error effects at 16 and 20 nm technology nodes
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Semiconductor industry is currently offering 16 nm technology node with FinFET fabrication processes. Soft error causing mechanisms and error rates for FinFET technologies are...
当前半导体行业已商业化推出采用鳍式场效应晶体管（FinFET）制造工艺的16纳米技术节点。针对FinFET工艺的软错误诱发机制与错误率相关内容……
