РЕНТГЕНОВСКАЯ ТОПОГРАФИЯ В ФИЗИЧЕСКОМ МАТЕРИАЛОВЕДЕНИИ: НОВЫЕ ВОЗМОЖНОСТИ И ДОСТИЖЕНИЯ

Практически все полезные свойства кристаллов в той или иной степени связаны со структурными дефектами. Рентгеновская топография (дифракционная микроскопия) это группа методов, позволяющих получить изображение вариаций интенсивности, дифрагируемой различными точками объема и поверхности кристаллов 1, и таким образом увидеть дефекты кристаллической структуры, определить их тип и пространственное положение. К настоящему времени разработаны и широко используются ряд однокристальных (метод Ланга, аномального прохождения рентгеновских лучей, секционная топография, метод углового сканировании и т.д.) и различные варианты многокристальных топографических методов, особенности применения которых рассмотрены в многочисленных обзорах