Figure.2.opju
收藏Figshare2025-05-13 更新2026-04-08 收录
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资源简介：
The calculation dataset of Figure.2 in the titled journal paper: Quantifying Flat-Band Voltage in Si Metal-Oxide-Semiconductor Structures- An Evaluation via Terahertz Emission Spectroscopy (TES)
提供机构：
YANG, DONGXUN; Tonouchi, Masayoshi
创建时间：
2025-05-13
