模拟计算芯片外围电路ADC的精度与速度测试数据集

本数据集是课题2考核指标2.4“外围电路精度”和考核指标2.5“外围电路速度”，其中的ADC精度与速度部分单独列出在该数据集中。主要关联课题2以下研究内容：模拟计算阵列外围电路能效比和准确度提升技术。课题通过设计精度可调的模拟计算阵列外围ADC电路，同时优化电路功耗和面积，实现高性能ADC电路测试验证，达到考核指标要求。数据集命名为模拟计算芯片外围电路ADC的精度与速度测试数据集，数据量约为1.94MB，所有文件均存放在根目录下。11个图片分别命名为课题2-004-2025年1月第三方测试外围电路ADC的精度和速度-图1~图11.jpg。图1是测试流程示意图。图2是待测样品ADDA芯片照片。图3是测试PCB环境。图4是整体测试环境照片。图5显示了对ADC的低频正弦24kHz输入。图6显示了正弦信号的峰值为2.58VPP。图7显示了采样时钟信号为100MHz。图8是8bit逻辑分析仪ADC输出过程截图。图9是经过数据处理后的8bit静态性能DNL/INL。由图可知，8bit静态性能DNL最小为-0.99，未出现-1表明ADC无丢码，满足CIM结果的读出功能，由此验证ADC的精度可达8bit，转换速度100MS/s。图10是4bit逻辑分析仪ADC输出过程截图。图11是经过数据处理后的4bit静态性能DNL/INL。由图可知，4bit静态性能DNL最小为-0.15，未出现-1表明ADC无丢码，满足CIM结果的读出功能，由此验证ADC的精度可达4bit，转换速度100MS/s。

搜集汇总

背景与挑战

背景概述

该数据集聚焦于模拟计算芯片外围电路中ADC的精度与速度测试，旨在验证ADC电路的性能，包括8bit和4bit精度下的静态性能（DNL/INL）及转换速度。数据集包含测试图片和数据文件，用于支持相关课题的考核指标达成。