Wstępne badania własności struktur MPSoC nad możliwością implementacji wysokorozdzielczego przetwornika TDC.

Zamieszczone dane pomiarowe i informacje odnośnie przeprowadzonego eksperymentu dotyczyły wykonania badań wstępnych (pilotażowych) mających na celu dostarczyć istotnych z punktu widzenia precyzyjnej metrologii odcinka czasu informacji na temat własności struktur MPSoC (ang. Multi-Processor System-on-Chip). Obiektem badań był układ MPSoC firmy AMD/Xilinx Zynq UltraScale+ (XCZU7EV) wykonany w technologii FinFET 16 nm. Realizacja działania naukowego wymagała konstrukcji części optycznej i mechanicznej stanowiska, kalibracji i automatyzacji procesu pomiarowego oraz wykonania właściwych pomiarów. Szczególnie interesującym było udzielenie odpowiedzi na pytanie odnośnie własności czasowych, ścieżek szybkich połączeń CARRY dedykowanych do implementacji funkcji przeniesień arytmetycznych oraz wpływu czynnika temperaturowego na czas propagacji sygnału tymi połączeniami.